<strike id="xdpnd"></strike>
    <address id="xdpnd"></address>
    <address id="xdpnd"></address>
    <noframes id="xdpnd"><form id="xdpnd"><th id="xdpnd"></th></form>
    

    <address id="xdpnd"><listing id="xdpnd"><listing id="xdpnd"></listing></listing></address>
    <noframes id="xdpnd">
    
<form id="xdpnd"></form>
      
    
      

      


      


        
      
	
        

      
    
      
        
      
            
      
                
    
      
        主營產品：
        
            
                
                
      便攜式焦爐紅外測溫儀，毛細吸水時間測定儀，深視力檢測儀，石油產品凝點測定儀，磷酸根分析儀，玻璃密度比較儀
      
                  
              
    
      

            
      
        
      
    
      
    
    
      
    
      
    

      



      
    
      
        
      
            產品資料
        
      
        

      
    
    
      
        產品[
      
            能薄膜性測試儀
      
        ]資料
    
      
    
      
        
        如果您對該產品感興趣的話,可以 
            sendmsg
        
      
        產品名稱: 
            能薄膜性測試儀
      
        產品型號:
        HAD0-70601
      
        產品廠商:
        恒奧德
      
        產品文檔:
        無相關文檔
        
        
        
        
      
        
    
      
    
      
        簡單介紹
    
      
    
      
            
      儀器由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀兩分組成。具有測量精度，靈敏度，穩定性好，測量范圍寬，結構緊湊，使用方便等點。儀器適用于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，等院校對半導體材料的電阻性能的測試
      
    
      
    
      
        
            能薄膜性測試儀 的詳細介紹
    
      
    
      
        
      
            
      能薄膜性測試儀型號:HAD0-70601 
      儀器由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀兩分組成。具有測量精度，靈敏度，穩定性好，測量范圍寬，結構緊湊，使用方便等點。儀器適用于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，等院校對半導體材料的電阻性能的測試。

      四探針測試儀由主機，測試架等分組成?？梢詼y量片狀，塊狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻），能材料暗電導和光電導及溫度的變化的性，還可以對金屬導體的低，中值電阻行測量。測試探頭采用寶石導向軸套和耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確，游移率小，壽命長。

      非晶硅薄膜電導率測量儀由樣品室，溫控系統，真空系統，阻測量系統等分組成。

      1. 測量范圍：電阻測量范圍：1×106 1×1017Ω；

      電阻率：0.001～200Ω cm;

      電導率：0.005～1000s/cm;

      2. 可測晶片直徑：200mm×200mm;

      3. 探針：碳化鎢或速鋼；探針間距：1± 0.01mm;

      4. 針間緣電阻： ≥ 1000 MΩ； 機械游移率：≤0.3%；

      5. 本底真空度： ≤10Pa,氣壓可控范圍：10～400Pa;

      襯底加熱溫度：室溫度～200℃



             		能薄膜性測試儀能薄膜性測試儀HZDH0-70601
      

      
    
      
        產品留言
    
      
    
      
        
      
            標題
            
      
                
            
      
        
      

        
      
            聯系人
            
      
                
            
      
        
      
        
      
            聯系電話
            
      
                
            
      
        
      
        
        
      
            內容
            
      
                
            
      
        
      
        
      
            驗證碼
            
      
                
            
      
            
            點擊換一張
        
      
        
      
            
            
        
      
        
      
            注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
      2.如有*,請您留下您的詳細聯系方式!
        
      
    
      

      
      
        
      
    
      

      

        
      
        


    
      
    

      

      
    
      
    
      
    
      
    
      

      

      
    
      
    
      
    
      
        
    
      
    
      
    
      
    
      
        

      
    Copyright? 2003-2025 
    北京恒奧德儀器儀表有限公司版權所有
      
       
    電話：15010245973微信同號/010-51658042   
    傳真：   
    地址：   
    郵編：
      
    
        京ICP備10012662號-9    
    



      

    
      

      






      
        
        
        
        
    

      
    
	

婷婷五月深深久久精品