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        主營產品：
        
            
                
                
      便攜式焦爐紅外測溫儀，毛細吸水時間測定儀，深視力檢測儀，石油產品凝點測定儀，磷酸根分析儀，玻璃密度比較儀
      
                  
              
    
      

            
      
        
      
    
      
    
    
      
    
      
    

      



      
    
      
        
      
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        產品[
      
            頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀
      
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        產品名稱: 
            頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀
      
        產品型號:
        H8535
      
        產品廠商:
        恒奧德
      
        產品文檔:
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        簡單介紹
    
      
    
      
            
      頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：H8535

1、 用途
用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。

      
    
      
    
      
        
            頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 的詳細介紹
    
      
    
      
        
      
            

      

      頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：H8535
      

      1、 用途
      

      用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。
      

      2、 設備組成
      

      2.1、光脈沖發生裝置
      

      重復頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ
      

      紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶）   脈沖電流：5A～20A
      

      如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
      
2.2、頻源
      

      頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出率＞1W
      

      2.3、放大器和檢波器
      

      頻率響應：2Hz～2MHz
      

      2.4、配用示波器
      

      配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。
      

      3、測量范圍
      

      KDK-LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ
      

      

      

      北京恒奧德儀器儀表有限公司
      
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